產品介紹 Production Introduction
能芯電子開發(fā)的桌面式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)(PSL-DHTGB/DHTRB-SE)為開放式的動態(tài)可靠性測試系統(tǒng),支持小批量不同封裝形式的單管與模塊的DGS/DRB實驗。
桌面式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)(PSL-DHTGB/DHTRB-SE)的設計靈感來自于樂高玩具,通過搭配能芯電子多類型的測試功能板、驅動器、參數(shù)采集卡與動態(tài)可靠性測試軟件,結合客戶自有的示波器與探頭,以搭積木的形式形成設備。該系統(tǒng)具有高性價比、易維護等優(yōu)點,以最低成本幫助客戶實現(xiàn)動態(tài)可靠性的測試能力。
桌面式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)配套殼體,附贈動態(tài)可靠性測試軟件,可設置實驗參數(shù),監(jiān)控過程曲線。

桌面式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)配套的多種測試功能板,可單獨作為配件采購,實現(xiàn)DGS/DRB的測試功能。
產品規(guī)格 Product Specifications
| 類別 | 詳情 |
|---|---|
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測試項目 |
DHTGB(DGS)動態(tài)柵極偏置可靠性測試
或
DHTRB(DRB)動態(tài)反偏可靠性測試
兼容主動式與被動式
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| Vgs | 典型測試范圍:-10~22V |
| Vds | 典型測試范圍:520~1200V |
| 頻率范圍 |
單管TO247-3L/4L:0~1000kHz
模塊Easy1B/2B:0~200kHz
模塊HPD:0~100kHz
(根據器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié))
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| 占空比 | 10~90%(根據器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)) |
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dVgs/dt dVds/dt |
≥0.3V/ns(根據器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié))
≥50V/ns(根據器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié))
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| 過沖 | 0(根據器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)) |
| 監(jiān)控參數(shù) | Igss,Vth,外殼溫度 |
| 加熱/冷卻方式 |
風冷鰭片,加熱板
其中風冷鰭片的降溫效果取決于設備所處實驗環(huán)境,
加熱板最高溫度至200℃。
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| 最大容量 |
DHTGB(DGS)或DHTRB(DRB)
單管:16顆;
半橋模塊(以Easy1B為例):4個;
三相模塊(以HPD為例):2個;
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